Video di presentazione Catania

 
 

Installato a Catania il potente microscopio elettronico in trasmissione a scansione, JEOL S/TEM Cs-corrected ARM 200F, di ultimissima generazione dotato di sorgenti tipo ColdFEG ad elevata brillanza e monocromaticità. Il microscopio è dotato di un apparato elettro-ottico per la correzione dell’aberrazione sferica della sonda che garantisce l’analisi ad elevata risoluzione spaziale, anche tomografica, di nanostrutture. Esso garantisce una risoluzione spaziale al di sotto dell’Ångstrom ed una risoluzione energetica di 0.3eV, per l’analisi a risoluzione atomica di materiali bidimensionali e carbon–based (grafene, carbon nanotubes, fosforene…). Il microscopio è installato all’interno di un laboratorio in cui sono stati ottimizzati l’isolamento da vibrazioni meccaniche e acustiche, rumore elettromagnetico, e controllo della temperatura ambientale. Il nuovo laboratorio è stato realizzato grazie al finanziamento PON R&C del MIUR, attraverso il progetto Beyond Nano (www.beyondnano.it) del CNR.